ASTM F866-1984(1990)E01 放射性同位素密封试验用封装器件封壳衰减系数的测量方法
作者:标准资料网
时间:2024-04-30 03:26:36
浏览:8117
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringthePackageAttenuationCoefficientofaSealedDeviceforRadioisotopeHermeticTest
【原文标准名称】:放射性同位素密封试验用封装器件封壳衰减系数的测量方法
【标准号】:ASTMF866-1984(1990)E01
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;电子工程;密封;外壳;测量;衰减系数;元部件
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【原文标准名称】:放射性同位素密封试验用封装器件封壳衰减系数的测量方法
【标准号】:ASTMF866-1984(1990)E01
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;电子工程;密封;外壳;测量;衰减系数;元部件
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
下载地址:
点击此处下载